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                            毛細聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀
                            毛細聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀

                            毛細聚焦X熒光光譜儀、連接器測厚儀 此系列產品可測量金屬準直無法測量的微區,多導毛細聚焦管光學元件的光束尺寸可小至5μm,因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區域。 可以測量納米級的鍍層,毛細聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上,可以敏感的反應鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區域上的X射線強度比金屬準直系統高出幾個數量級。 可以實現更高的測試精度。

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